机译:通过表面分形几何和电阻率表征铜钨薄膜的表面形态
Xian Jiaotong Univ, State Key Lab Mech Behav Mat, Xian 710049, Peoples R China;
copper-tungsten thin films; surface morphology; fractal dimension; resistivity; ATOMIC-FORCE MICROSCOPY;
机译:自仿射分形表面的电子表面散射在云母上形成的金薄膜的电阻率
机译:分形和多法形态对晶体 - Si薄膜表面润湿性和反射率的影响,作为太阳能电池的光子吸收层
机译:用低能氮离子改性镍薄膜表面的分形特征:原子力显微镜测定微观形态学(AFM)
机译:通过FS辐射改性的壳聚糖生物聚合物薄膜的形态学特征及其潜在应用作为再生医学中的功能表面
机译:超薄金属膜诱导钨表面的形态学转化
机译:铜酞菁薄膜的干刻蚀:对形态和表面化学计量的影响
机译:功率谱密度和分形几何Cu / Ni纳米复合薄膜的表面微观分析