机译:红外光谱椭偏仪研究聚合物基质中分子取向引起的各向异性
J.A. Woollam Co., Inc., 645 M Street, Suite 102, Lincoln, NE 68508, USA;
infrared spectroscopic ellipsometry; molecular bond absorptions; anisotropy;
机译:通过光谱椭圆偏振法从可见光远紫外到红外光谱区域研究聚对苯二甲酸乙二醇酯和聚萘二甲酸乙二醇酯聚合物薄膜的光学各向异性
机译:SiO_2 / Si基体上锌卟啉薄膜的晶体结构和分子取向的X射线衍射和红外多角度入射分辨光谱研究
机译:通过可见光和红外光谱椭偏仪探测铝基板上的无机和无机薄涂层的可行性研究
机译:温度依赖性光谱 - 椭偏针(T型椭圆形)固体基材上薄聚合物膜的表征
机译:对微电子工业相关的聚合物基材和聚合物粘合剂的分子结构变化的光谱研究
机译:使用红外光谱椭偏仪同时表征聚合物多层的物理化学和热学性质
机译:b-片段主要蛋白质中三氟乙醇诱导的非本征α-螺旋结构的分子间b-片结果:红外和圆二色光谱研究