机译:实时椭圆偏振光谱法评估混合相(非晶+晶体)硅膜中的成分深度分布
Department of Physics and Materials Research Institute, The Pennsylvania State University, University Park, PA 16802, USA;
real time spectroscopic ellipsometry (RTSE); silicon film growth; mixed-phase silicon films; microcrystalline silicon (μc-Si:H); composition gradients;
机译:实时椭圆偏振光谱法分析可控混合相(非晶+微晶)硅薄膜
机译:交替沉积硅和氢等离子体处理制备的非晶态和微晶态硅薄膜的生长的实时光谱分析
机译:椭圆偏振光谱和红外光谱对非晶/晶体硅异质结太阳能电池的实时监控和过程控制
机译:实时光谱椭偏仪测定的(a +μc)-Si:H混合相中结晶度的演变
机译:实时椭圆偏振光谱研究晶体颗粒和薄膜的成核和生长
机译:n-i-p氢化非晶硅基光伏器件的光谱椭圆偏振法研究
机译:离子注入引起的特殊损伤特征,通过椭圆偏振光谱法测定了晶体和松弛(退火)非晶硅中的离子注入