机译:通过透射率测量的反演方法研究氢化钯薄膜的光电性能
Centro de Investigacion en Ciencia e Ingenieria de Materiales and Escuela de Fisica, Universidad de Costa Rica, 2060 San Jose, Costa Rica;
optical properties; hydrides; palladium;
机译:透射和反射光谱研究氢暴露的Pd薄膜的光学特性
机译:使用透射率和反射率测量对非晶Se _(80-X)Te_(20)Bi_x薄膜的光学特性的成分依赖性
机译:通过使用光谱投影梯度法从透射率测量中获取的吸收性基板上薄膜的光学特性
机译:离子束分析方法研究Ti-V多层薄膜及其氢化物的物理性质
机译:通过电导率弛豫测量研究镧锶锰氧化物薄膜的氧表面交换性质。
机译:嵌入Si量子点的ZnO薄膜的透光率和电性能的改善
机译:嵌入Si量子点的ZnO薄膜的透光率和电性能的改善