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机译:X射线衍射技术分析外延氧化物薄膜中的缺陷
Institut fuer Bio-und Nanosysteme (IBN) und cni-Center of Nanoelectronic Systems for Information Technology, Forschungszentrum Juelich, D-52425 Juelich, Germany;
thin film characterization; oxide films; defects in thin films; X-ray detection;
机译:X射线衍射数据和分析在FESE和FE中支持阶段鉴定
机译:在外延稳定性HCP镍薄膜中相变化的原位同步X射线衍射分析,通过等离子体增强原子层沉积制备
机译:通过同步加速器X射线衍射测量分析在超光滑蓝宝石衬底上外延生长的NiO超薄膜的结构
机译:基于电沉积外延过渡金属氧化物膜的结构定义的氧气进化电催化剂的手术室表面X射线衍射研究
机译:银(001)和银(111)上超薄外延铬和氧化铁膜的生长和结构:通过X射线光电子衍射和低能电子衍射完成的综合研究。
机译:X射线衍射数据和分析以支持FeSe和Fe7Se8外延薄膜的相识别
机译:外延氧化物薄膜应变松弛的高分辨率X射线衍射分析
机译:通过X射线光电子衍射,扫描隧道显微镜和低能电子衍射研究铂(111)上外延氧化铁的生长