机译:根据透射率数据确定In_2O_3:Sn薄膜的光学常数和厚度
School of Physics and Opto-Electronics Technology, Fujian Normal University, Fuzhou 350007, PR China;
indium tin oxide; thin films; optical constants; optical properties;
机译:TiO_2纳米管阵列薄膜的合成及其透射率光学常数的测定。
机译:共掺杂Zn_(0.90)Co_(0.05)M_(0.05)O(M = Al,Cu,Cd,Na)薄膜的透射率数据的结构,微结构和光学常数的确定
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机译:一种从单一透射率曲线确定任意吸收率薄膜的光学常数的准确快速的新方法:在介电材料中的应用
机译:金属嵌入式透明导电氧化物薄膜的电阻率和透光率模拟
机译:银纳米薄膜表面等离激元的厚度色散:透射法迭代椭偏法测定。
机译:根据透射率数据确定非晶硅膜的厚度和光学常数