机译:通过X射线反射率测量研究异丁烷薄膜在硅上的吸附
Experimentelle Physik I/DELTA, Universitaet Dortmund, Otto-Hahn-Str. 4, D-44221 Dortmund, Germany;
thin films; adsorption; x-ray reflectivity; x-ray scattering;
机译:用X射线反射率,ESCA和光学椭偏法测量硅和非晶氢化碳上全氟聚醚聚合物薄膜的厚度
机译:立方氮化硼薄膜的红外光谱和X射线反射率测量的界面研究
机译:氧化硅和氧化硅-氮化硅叠层结构非常薄的薄膜的X射线反射率研究
机译:利用X射线反射率的傅里叶变换厚度测量薄膜和多层的测量
机译:使用X射线技术研究硅-二氧化硅薄膜和球磨锡锗(硅)粉末的界面
机译:通过辉光放电光谱研究掺杂元素来表征非晶硅薄膜。电导率和带隙能量测量的相关性
机译:薄膜中的纵向和横向磁化部件:使用圆极化的软X射线进行共振磁反射率调查
机译:真空沉积薄膜的X射线反射率测量