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机译:应力奇异性较弱的薄膜之间自由边缘处的界面裂纹引发
Department of Mechanical Engineering and Science, Kyoto University, Kyoto, 606-8501, Japan;
crack initiation; interfaces; interface strength; stress singularity; aluminum; cupper; gold; silicon oxide;
机译:先进LSI中薄膜之间的界面自由边缘处的裂纹萌生
机译:小边缘界面裂纹的应力强度因子与键合异种材料的自由边缘应力奇异性强度之间的关系
机译:粘接异常材料界面界面和自由边缘应力奇异性应力强度因子关系的数值与理论研究
机译:薄膜边缘的裂纹开始,奇异性奇异性
机译:应力和应变场的奇异性,微裂纹及其在复合材料层压板自由边缘的破坏引发中的作用。
机译:通过生长的空气-水界面定向的超薄方石英薄膜边缘防止商业合金腐蚀
机译:纳米级奇异应力场从铜/氮化硅界面边缘产生分层裂纹
机译:两种粘结非均匀弹性材料界面反平面剪切裂纹的应力奇异性顺序