机译:通过光学测量分析推导ITO和ITON膜在光谱红外区域的复折射率
Microelectronics Research Group, Institute of Electronic Structure & Laser, Foundation for Research and Technology-FORTH-Hellas, P. O. Box 1527, Heraklion 71110, Crete, Greece;
indium tin oxide; indium tin oxynitride; optical properties; refractive index; relaxation time; plasma wavelength;
机译:冲击压缩聚合物薄膜的红外复合折射率测量和模拟反射模式红外吸收光谱
机译:可见光和近红外区域的光学塑料折射测量
机译:Bi-2(Zn1 / lNb2 / 3)07薄膜在太赫兹,红外和光学频率范围内的全光谱介电响应
机译:RF和DC磁控溅射沉积铁,IZO和GO膜的内应力
机译:光纤和半导体薄膜中非线性折射率的时域测量。
机译:过去的宝藏VII:通过椭偏仪测量非常薄膜的厚度和折射率以及表面的光学性质
机译:非线性光学液体在可见光和近红外光谱区域的线性折射率和吸收测量
机译:结晶二氧化硫:晶体场分裂,绝对带强度和来自红外光谱的复杂折射指数