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机译:阶段控制参数对FIB铣削过程的影响
School of Mechanical Engineering, Sungkyunkwan University, Suwon 440-746, South Korea;
FIB; etching; micromilling; design of experiment; Re-deposition;
机译:高深宽比微孔铣削中聚焦离子束(FIB)的控制参数
机译:优化硅的FIB铣削过程参数及其在纳米术中的应用
机译:低损伤薄片制备金属材料通过具有低加速电压和低入射角AR离子铣削料的FIB加工
机译:聚焦离子束尺寸反馈的铣削过程控制-扫描电子显微镜系统(FIB-SEM)
机译:在塑料注射成型的塑化阶段控制工艺参数。
机译:优化了不同碾磨程度的长短short稻品种制备米粉的工艺参数
机译:超快纳米制造和分析使用XE血浆 - FIB-SEM显微镜及其使用摇摆阶段Cu Milling的应用