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机译:用于描述老化的多孔硅低介电常数薄膜硬度变化的多层模型
Unite de Recherche Materiaux et Energies Renouvelables URMER, Universite Abou Bakr Belkaid, BP 119, Tlemcen 13000, Algerie;
Arts et Metiers ParisTech, CNRS, LMPGM, Equipe Caracterisation et Proprietes de la Perisurface, 8 boulevard Louis XIV 59046 Lille Cedex, France;
LARMAUR, EA 410, Universite de Rennes 1, Campus de Beaulieu, 35042 Rennes cedex, France;
Arts et Metiers ParisTech, CNRS, LMPGM, Equipe Caracterisation et Proprietes de la Perisurface, 8 boulevard Louis XIV 59046 Lille Cedex, France;
Unite de Recherche Materiaux et Energies Renouvelables URMER, Universite Abou Bakr Belkaid, BP 119, Tlemcen 13000, Algerie;
instrumented-indentation testing; composite hardness modelling; porous si film; low-k dielectric thin film; martens hardness;
机译:预测多孔硅低介电常数薄膜有效介电常数的模型
机译:背面有准单晶多孔硅的薄膜晶体硅太阳能电池的简单分析模型
机译:多层有效介质近似方法,通过原位Mueller矩阵椭偏法测量氧化铝钝化的高多孔硅纳米结构薄膜的环境效应
机译:实施多层多孔硅堆叠背反射器的薄膜硅太阳能电池中光反射的建模和实验验证
机译:使用硬度和内部应力数据估算铜/镍多层薄膜的界面性质。
机译:通过PECVD在镍金属化多孔硅上沉积的非晶硅薄膜的结晶
机译:用于描述老化的多孔硅低介电常数薄膜硬度变化的多层模型