机译:硬X射线光电子能谱研究贫铜和富铜的Cu(In,Ga)Se-2 / CdS界面
Helmholtz Zentrum Berlin, D-14109 Berlin, Germany;
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Helmholtz Zentrum Berlin, D-14109 Berlin, Germany|Free Univ Berlin, Dept Phys, D-14195 Berlin, Germany;
Chalcopyrite; Hard X-ray photoelectron spectroscopy; Cd diffusion; Interface;
机译:使用硬X射线光电子和X射线荧光光谱通过物理气相沉积制备的楔形Cu(In,Ga)Se-2薄膜的局部解析研究
机译:使用硬X射线光电子能谱直接测量CdS和Cu2ZnSnS4之间的界面处的带偏移
机译:使用硬X射线光电子能谱直接测量CdS和Cu_2ZnSnS_4之间的界面处的带偏移
机译:光电子和软X射线发射光谱显示的In2S3 / Cu(In,Ga)Se2界面高度混合
机译:用于磁性多层研究的硬X射线驻波光电子能谱的理论研究。
机译:TiO2(Ti)/ SiO2 / Si叠层内部结构的软X射线反射法硬X射线光电子能谱和透射电子显微镜研究
机译:利用硬X射线光电子能谱研究Cu贫Cu和Cu Cu,Ga se2 Cds界面