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机译:通过电学测量确定聚合物支撑薄膜的有效裂纹长度
Austrian Acad Sci Erich Schmid Inst Mat Sci Jahnstr 12 A-8700 Leoben Austria|Univ Leoben Dept Mat Phys Jahnstr 12 A-8700 Leoben Austria;
Austrian Acad Sci Erich Schmid Inst Mat Sci Jahnstr 12 A-8700 Leoben Austria|Empa Swiss Fed Labs Mat Sci & Technol Feuerwerkerstr 39 CH-3602 Thun Switzerland;
Thin films; Polymer substrate; Crack length; Crack density; Electrical resistance; Tensile test;
机译:利用裂纹尖端通过薄膜涂层的高对比度图像进行压痕断裂(IF)方法的新的裂纹长度测量技术
机译:杜兰戈磷灰石裂变径迹定年,采用基于年龄的年龄校正和通过天然th薄膜和通过天然铀薄膜校准的天然U掺杂玻璃的中子注量测量
机译:极化中子反射法测量超导NB薄膜中的电磁筛分长度。
机译:使用电阻率测量的薄膜电学特性
机译:通过电导率弛豫测量研究镧锶锰氧化物薄膜的氧表面交换性质。
机译:寡聚噻吩薄膜中的相变和单层结构的形成:用原位X射线衍射和电学测量相结合的探索
机译:使用离子溅射膜和玻璃和陶瓷裂纹生长特性的裂纹长度测量和疲劳裂纹引发检测的实用方法