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机译:椭圆偏振光谱法的纳米结构玻璃基薄膜的光学性质
Oak Ridge Natl Lab, POB 2008,Mail Stop 6069, Oak Ridge, TN 37831 USA;
Oak Ridge Natl Lab, Div Chem Sci, POB 2008,Mail Stop 6100, Oak Ridge, TN 37831 USA;
Oak Ridge Natl Lab, Div Mat Sci & Technol, POB 2008,Mail Stop 6071, Oak Ridge, TN 37831 USA;
Oak Ridge Natl Lab, Div Chem Sci, POB 2008,Mail Stop 6100, Oak Ridge, TN 37831 USA;
Oak Ridge Natl Lab, Div Mat Sci & Technol, POB 2008,Mail Stop 6071, Oak Ridge, TN 37831 USA;
Spectroscopic ellipsometry; Nanostructured glass films; Bruggeman effective medium approximation; Incomplete beta function;
机译:椭圆偏振光谱法研究纳米结构Si / SiN_x薄膜的光学特性
机译:椭圆偏振光谱法研究氧化物薄膜的纳米结构与光学性质的相互关系
机译:光学常数的测定,包括光学厚的纳米结构Ti膜的表面特性:通过椭圆偏振光谱分析
机译:椭圆偏振光谱法研究纳米银薄膜的光学特性
机译:光谱反射法和椭圆偏振法测定固体薄膜的光学性能
机译:椭圆偏振法在透明表面上薄膜的光学性质;接近临界角的覆膜表面的内部反射
机译:错误:“用光谱椭圆形测定法研究的无定形和结晶SB掺杂SnO2薄膜的光学性质:光学间隙能量和有效质量”J。苹果。物理。 118,085303(2015)
机译:光谱椭偏法测定有机薄膜的光学性质。