机译:红外光谱孔隙率法:表征百纳米厚多孔薄膜的研究与应用
Hiroshima Univ, Dept Chem Engn, Higashihiroshima, Hiroshima 7398527, Japan;
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Porous thin films; Infrared spectroscopy; Adsorption; Porosimetry; Pore size distribution;
机译:红外光谱孔隙测力法:开发和应用,用于表征百纳米厚的多孔薄膜
机译:X射线光度法:表征适用于半导体工业的多孔低介电常数薄膜的新方法
机译:中子孔隙率法和X射线孔隙率法表征纳米多孔低介电常数薄膜中的孔结构
机译:基于X射线孔隙率法的甲基倍半硅氧烷基多孔低k薄膜的结构表征
机译:多孔薄膜的微观结构表征及其在电化学电容器中的应用。
机译:具有Ru籽晶层的MEMS不可蒸发吸气薄膜的研制与表征
机译:镜面反射孔隙率法表征介孔薄膜
机译:锂钴氧化物薄膜的溅射沉积和表征及其在薄膜可充电锂电池中的应用