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Gdoesナノ薄膜分析ですぐれた深さ分解能を持つデブスプロファイルを得るために

机译:Gdoes纳米薄膜分析,用于获得具有出色深度分辨率的深度轮廓

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摘要

rf-GDOES(高周波グロー放電発光分析法)は亜鉛めっき鋼rn板のような厚い皮膜ばかりでなく,ナノ薄膜のデプスプロrnファイル分析に非常に有効な手法である。装置はSIMSrnやAESなどと異なり,超高真空やイオン銃などを必要としrnないため操作が非常に簡単で,分析も1μm程度までの厚さrnの皮膜ならわずか1分以内ですむ。
机译:rf-GDOES(高频辉光放电光谱法)是一种非常有效的方法,不仅可以对镀锌钢板等厚膜,而且可以对纳米薄膜进行深度轮廓分析。与SIMSrn和AES不同,该设备不需要超高真空或离子枪,因此操作非常容易,并且可以使用厚度rn高达约1μm的薄膜在1分钟内完成分析。

著录项

  • 来源
    《表面技術》 |2008年第12期|904-906|共3页
  • 作者

    清水健一;

  • 作者单位
  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 jpn
  • 中图分类
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