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TESTING Cover-Extend Technology

机译:测试Cover-extd技术

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摘要

Cover-Extend enables manufacturers to access increasingly complicated PCB assemblies for test. Traditional ICT methodologies require physical access on these PCBAs for test probes. However, with shrinking board geometries and an increase in quantity and complexity of components squeezed onto each board, it has become almost impossible in many cases to find access for test probes. Cover-Extend combines the standardized, limited access, digital stimulus capability of boundary scan with the vectorless simplicity of VTEP.
机译:Cover-Extend使制造商能够访问日益复杂的PCB组件进行测试。传统的ICT方法需要在这些PCBA上进行物理访问以用于测试探针。但是,随着电路板几何尺寸的缩小以及被压在每块电路板上的组件数量和复杂性的增加,在很多情况下几乎不可能找到测试探针的通道。 Cover-Extend将边界扫描的标准化,受限访问,数字刺激功能与VTEP的无矢量简便性结合在一起。

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    《Surface Mount Technology》 |2009年第3期|26-26|共1页
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