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New metrology challenges met by elastic probe technology

机译:弹性探针技术应对新的计量挑战

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摘要

A new nondestructive elastic probe technology enables semiconductor manufacturers to conduct advanced electrical testing on product wafers at production speeds. The cost savings can be enormous, and the accuracy and flexibility of the technology facilitate continued miniaturization.
机译:新型无损弹性探针技术使半导体制造商能够以生产速度对产品晶圆进行先进的电气测试。节省的成本可能是巨大的,并且该技术的准确性和灵活性促进了持续的小型化。

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