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Strong phase shift mask designs with lower cost

机译:强大的相移掩模设计,成本更低

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摘要

Phase-shifting masks make subwavelength lithography feasible, but manufacturers have shied away from "strong" PSMs, which require neighboring transparent features to be assigned opposite phases, and circuits to be designed without phase conflicts. Now, two innovations promise to overcome these difficulties.
机译:相移掩模使亚波长光刻变得可行,但制造商已避开“强” PSM,后者要求将相邻的透明特征分配给相反的相位,并且电路设计时应避免相位冲突。现在,两项创新有望克服这些困难。

著录项

  • 来源
    《Solid state technology》 |2001年第1期|p.104107|共2页
  • 作者

    M.D. Levenson;

  • 作者单位
  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 一般性问题;
  • 关键词

  • 入库时间 2022-08-18 01:37:09

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