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摘要

This production-ready, I300I-compliant 300mm wafer inspection tool is fully automated and can run multiple wafer sizes without mechanical changeover, an important consideration for manufacturing environments scaling from 200mm to 300mm and for foundries where frequent wafer size changes are common practice. Based on the proven NSX series, the new system combines automated 300mm wafer handling, factory hardware, and software interface capabilities with the inspection technology of the NSX, providing chipmakers with a complete high-speed inspection solution for 300mm production.
机译:这款符合I300I标准且可投入生产的300mm晶圆检查工具是全自动的,可以运行多种尺寸的晶圆而无需进行机械转换,这是从200mm到300mm的制造环境以及经常更改晶圆尺寸的铸造厂的重要考虑因素。新系统基于成熟的NSX系列,结合了自动300mm晶圆处理,工厂硬件和软件接口功能以及NSX的检测技术,为芯片制造商提供了用于300mm生产的完整的高速检测解决方案。

著录项

  • 来源
    《Solid state technology》 |2001年第2期|p.123-124126128131133|共6页
  • 作者

  • 作者单位
  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 一般性问题;
  • 关键词

  • 入库时间 2022-08-18 01:37:08

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