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Haze And Sun For Mask Symposium

机译:阴霾与防晒面具研讨会

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摘要

Ever since lithographers began exposing with 193nm DUV light, photomasks have accumulated photochemical haze that eventually congeals into crystalline defects. At this year's SPIE Symposium on Photomask Technology (October 6-10 in Monterey, CA), maskmakers learned that clearing off the haze uncovered something new: a "sun effect" where images appeared brighter (and clear CDs bigger) in the center of the reticle, with dimmer regions at the edge. Perhaps symbolically, the days in Monterey began with thick haze, progressed to bright sun, and ended in darkness.
机译:自从光刻师开始使用193nm DUV光线曝光以来,光掩模就积累了光化学雾度,最终凝结为晶体缺陷。在今年的SPIE光掩膜技术研讨会上(10月6日至10日,在加利福尼亚州蒙特雷),掩膜制造商了解到,清除雾霾发现了一些新的东西:“太阳效应”,即图像中心的图像显得更亮(清晰的CD更大)。标线,边缘有较暗的区域。也许具有象征意义,蒙特雷的日子从浓雾开始,发展到灿烂的阳光,并在黑暗中结束。

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  • 来源
    《Solid state technology》 |2008年第12期|p.1416|共2页
  • 作者

  • 作者单位
  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

  • 入库时间 2022-08-18 01:35:31

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