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Electron Microscope

机译:电子显微镜

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摘要

The Titan3 80-300 scanning/transmission electron microscope (S/TEM) includes two Cs-aberration correctors and a monochro-mator on a single instrument, providing high-resolution imaging and analysis. Its environmental enclosure reduces its sensitivity to external sources of interference.
机译:Titan3 80-300扫描/透射电子显微镜(S / TEM)在单个仪器上包括两个Cs像差校正器和一个单色仪,可提供高分辨率的成像和分析。其环保外壳降低了其对外部干扰源的敏感性。

著录项

  • 来源
    《Solid state technology》 |2008年第7期|71|共1页
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  • 作者单位
  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

  • 入库时间 2022-08-18 01:35:31

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