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Leveraging ion implant process characteristics to facilitate 22nm devices

机译:利用离子注入工艺特性来简化22nm器件

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摘要

Certain inherent process characteristics such as precision, cleanliness, control and high productivity have been the hallmark of the entire implant industry for some time. Coupled with new capability, implant has become less of a commodity product and more enabling. In fact, the makers of the industry's next-generation devices are looking to implant to improve established doping applications and facilitate new precision materials modification applications to provide device performance and yield improvements required for 22nm.
机译:某些固有的过程特性,例如精度,清洁度,控制性和高生产率,一直是整个植入物行业的标志。加上新的功能,植入物已不再是一种商品,而变得更具功能性。实际上,该行业下一代设备的制造商正在寻求植入,以改善现有的掺杂应用,并促进新的精密材料改性应用,以提供22nm所需的设备性能和良率提高。

著录项

  • 来源
    《Solid state technology》 |2011年第3期|p.8-11|共4页
  • 作者

    James L. Kawski;

  • 作者单位

    Vorion Semiconductor Equipment Associates, Gloucester, MA USA;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
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