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3D integration: not a windfall for test

机译:3D集成:不是意外的收获

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摘要

After a seemingly interminable run of being "a year away," it is clear that 3D integration (or at least the silicon-interposer-enabled 2.5D version) now offers a viable path to achieve the performance, cost, and feature integration required of next-generation mobile devices. As with any significant shift in process technology, a redistribution of the value provided by different semiconductor supply-chain elements is likely here, along with a corresponding shakeup of the winners and losers in the supply chain.
机译:经过一年似乎无休止的运行,很明显,3D集成(或至少支持硅中介层的2.5D版本)现在提供了一条可行的途径来实现所需的性能,成本和功能集成下一代移动设备。与制程技术的任何重大变化一样,此处可能会重新分配不同半导体供应链要素所提供的价值,并相应地改变供应链中的赢家和输家。

著录项

  • 来源
    《Solid state technology》 |2012年第1期|p.24|共1页
  • 作者

    MIKE SLESSOR;

  • 作者单位

    MicroProbe, 617 Riuer Oaks Parkway, San Jose CA 95134;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

  • 入库时间 2022-08-18 01:34:59

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