机译:硅晶片表面的非线性光学表征:外部应力的原位检测
Optical characterization of semiconductor surface; Nonlinear optics at surfaces;
机译:激光诱导应力波测温法对单晶硅晶片的原位温度和厚度进行表征第二部分-实验结果
机译:用于单晶硅晶片的原位温度和厚度表征的激光诱导应力波测温法:第一部分-理论和设备
机译:用于单晶硅晶片的原位温度和厚度表征的激光诱导应力波测温法:第一部分—理论与装置
机译:硅片的非线性光学表征:堆垛层错和外部应力的原位检测
机译:硅晶片上溅射的硅化钨/硅多层薄膜的原位曲率和应力分析。
机译:发光Tb(III)配合物对硅晶圆的功能化:合成表征和气相中NO的光学检测中的应用
机译:特别问题:“原位光子探测”晶体生长表面的表征。光学非线性效应表面振动光谱。
机译:薄硅片中光声脉冲的光学检测。