机译:退火对Pt /β-SiC触头电性能的影响
β-SiC; Pt contact; Sputter damage; Interface trap;
机译:基于镍的欧姆触点的形态学和电性能通过激光退火工艺形成N型4H-SiC
机译:快速热退火对Mo / SiC肖特基触点电气和结构性能的影响
机译:热退火后Ti / Al / W接触点对p型注入4H-SiC的电和结构性能的演变
机译:热退火对Pt / Al_0.45Ga_0.55N肖特基触点的电气性能的影响
机译:快速热退火欧姆触点与砷化镓的比较电特性。
机译:在不同的注入后退火后p型铝注入的4H-SiC层上的欧姆接触
机译:基于镍的欧姆触点的形态学和电性能通过激光退火处理在N型4H-SiC上形成
机译:退火对金刚石薄膜钛电触头微观结构的影响。