机译:包含电流增益崩溃效应的多指HBT模型
Department of Electrical and Computer Engineering, Northeastern University, Boston, MA 02115, USA;
HBT; multi-finger; modified ebers-moll model; current collapse;
机译:多指异质结双极晶体管中电流增益的崩溃:其衬底温度依赖性,不稳定性标准和建模
机译:具有分级发射极和基极区域的HBT中的电流增益和传输时间效应
机译:Sige HBT中nbr电流和电流增益的基础组成效应研究
机译:功率HBT的新动态,自洽电热模型以及多指设备中热塌陷轨迹的新颖解释
机译:磷化铟镓/砷化镓HBT中的大信号建模和高电流效应的表征。
机译:缓解SiGe-HBT电流模式逻辑电路中的单事件效应
机译:多指HBT的电流增益崩溃建模