机译:MOSFET器件中随机掺杂引起的亚阈值特性波动
Department of Electrical and Computer Engineering, University of Maryland, College Park, MD 20742, USA;
fluctuations; statistics; mismatch; MOSFET; sensitivity analysis; submicron devices;
机译:在存在随机离散掺杂剂和随机界面陷阱的情况下,16nm栅极高k /金属栅极MOSFET的物理和电气特性波动的统计设备仿真
机译:亚阈值区双栅MOSFET随机掺杂波动的宏观建模分析模型
机译:存在随机陷阱和随机掺杂的45nm沟道长度MOSFET器件阈值电压波动估计的精确模型
机译:各种离散随机掺杂剂引起的10nm全栅硅纳米线MOSFET特性波动的统计器件仿真
机译:对纳米级三栅MOSFET中的随机掺杂剂波动效应进行建模。
机译:随机纳米氮化钛晶粒引起的动态功率延迟的特性波动以及全能门纳米线CMOS器件和电路的纵横比效应
机译:高斯函数分析DGMOSFET器件参数的亚阈值特性