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Electron mobility and terahertz detection using silicon MOSFETs

机译:使用硅MOSFET的电子迁移率和太赫兹检测

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摘要

Based on the mobility calculations, we investigate the possibility of using deep submicron silicon MOSFETs for the detection and emission of terahertz radiation via the excitation of the surface plasma waves in the device channels. This analysis shows the possibility of using the MOSFET-based terahertz detector and emitter pairs for the wireless interconnects for the future VLSI chips.
机译:基于迁移率计算,我们研究了使用深亚微米硅MOSFET通过激发器件通道中的表面等离子体波来检测和发射太赫兹辐射的可能性。该分析表明,将来的VLSI芯片可以将基于MOSFET的太赫兹检测器和发射器对用于无线互连。

著录项

  • 来源
    《Solid-State Electronics》 |2003年第9期|p.1559-1563|共5页
  • 作者

    Yanqing Deng; Michael S. Shur;

  • 作者单位

    Department of Electrical, Computer, and Systems Engineering and RPI/IBM Center for Broadband Data Transfer Science and Technology, CII 9015, Rensselaer Polytechnic Institute, Troy, NY 12180, USA;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 一般性问题;
  • 关键词

    MOSFET; plasma wave oscillation; terahertz detector; terahertz emitter;

    机译:MOSFET;等离子波振荡;太赫兹检测器;太赫兹发射器;
  • 入库时间 2022-08-18 01:36:01

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