机译:使用硅MOSFET的电子迁移率和太赫兹检测
Department of Electrical, Computer, and Systems Engineering and RPI/IBM Center for Broadband Data Transfer Science and Technology, CII 9015, Rensselaer Polytechnic Institute, Troy, NY 12180, USA;
MOSFET; plasma wave oscillation; terahertz detector; terahertz emitter;
机译:器件负载对硅MOSFET非共振检测太赫兹辐射的影响
机译:绝缘体上硅MOSFET非共振检测太赫兹辐射
机译:完全耗尽的绝缘体MOSFET中的反转层电子迁移率分布
机译:硅纳米线mosfets中的电子迁移率
机译:拉伸硅:单轴和双轴应变产生过程,以及绝缘体上硅MOSFET的迁移率提高。
机译:通过子带隙时间分辨的太赫兹光谱分式硅的载流子迁移率
机译:通过绝缘体上硅mOsFET非谐振检测太赫兹辐射