机译:在单脉冲自热条件下进行SiC外延功率二极管的动态表面温度测量
Department of Microelectronics and Information Technology, KTH, Royal Institute of Technology, Electrum 229, SE-164 40 Kista, Stockholm, Sweden;
temperature measurements; IR microscope; SiC-PiN epitaxial power diode; device sell-heating; dynamic IV characteristics; high carrier injection; free carrier concentration;
机译:SIC功率MOSFET体二极管的OCVD载波寿命与温度测量与反向恢复行为的相关性
机译:外延石墨烯生长对4H-SiC(0 0 0 -1)的宽温度依赖性:与温度相关的脊结构形成动力学的研究
机译:基于6.5 kV Si-IGBT / Si-PiN二极管,6.5 kV Si-IGBT / SiC-JBS二极管和10kV SiC-MOSFET / SiC-JBS的大功率中压转换器的设计比较二极管
机译:外延层对高温条件下SiC肖特基二极管气体传感器的影响
机译:激光退火:表面晶体结晶,空间变化测量,退火动力学及其他应用
机译:外延SiC肖特基势垒二极管的大剂量电子辐射和预期的室温自愈
机译:外延和注入siC piN功率二极管的正向动态IV特性