机译:SOI电路中重离子诱导的电荷收集机制分析
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机译:重离子和脉冲激光辐照下纳米尺度SOI器件电荷收集机理的机械应变和硅膜厚度比较分析
机译:基于薄膜SOI技术的新型SiGe HBT中的新型总剂量和重离子电荷收集现象
机译:SOI电容器和电路中的电荷收集及其对SEU硬度的影响
机译:机械应变对重离子和脉冲激光辐照下纳米尺度SOI器件电荷收集机制的影响
机译:使用重离子微束和MEDICI模拟计算对集成电路测试结构进行电荷收集研究。
机译:CMOS图像传感器的电荷域采样读出电路的时间噪声分析
机译:离子束诱导电荷收集(IBICC)来自集成电路测试结构的使用10meV碳微磁束
机译:由重离子微束诱导的条纹状测试结的扩散时间分辨离子束诱导电荷收集