机译:掺C和Fe的GaN和AlGaN中的电子俘获效应
Department of Physics, University of Central Florida, 4000 Central Florida Building, Orlando, FL 32816, USA;
ill-nitrides; cathodoluminescence; EBIC; lifetime; diffusion length;
机译:C-和Fe-掺杂GaN缓冲器对使用侧栅调制的GaN衬底上的AlGaN / GaN高电子迁移率晶体管性能的影响
机译:用Fe掺杂缓冲液中的AlGaN / GaN高电子迁移晶体管栅极断开状态应力诱导的捕获效应
机译:掺铁缓冲剂在AlGaN / GaN HEMT中的俘获效应的应用相关性评估
机译:陷阱和极化电荷对AlGaN / GaN高电子迁移率晶体管器件性能的影响
机译:Algan / Gan MoShemts诱捕效应研究
机译:使用AlGaN / GaN / AlGaN量子阱电子阻挡层的AlGaN / GaN HEMT中的高击穿电压
机译:使用AlGaN / GaN / AlGaN量子阱电子阻挡层的AlGaN / GaN HEMT中的高击穿电压