机译:四层穿通TVS器件的准分析击穿电压模型
Centro Nacional de Microelectronica (IMB-CSIC), Campus UAB, 08193 Cerdanyola del Valles, Barcelona, Spain;
electrostatic discharge; transient voltage suppressors; analytical models; semiconductor devices;
机译:横向穿通TVS器件可在低压应用中提供片上保护
机译:SOI高压器件顶部硅层上垂直击穿电压对杂质浓度的新分析模型
机译:具有电荷不平衡的超结功率器件的击穿电压:对穿通和非穿通器件均有效的分析模型
机译:四层穿通TVS二极管击穿电压的建模
机译:低压断路器中零电流后绝缘击穿的数值模型。
机译:固定电荷膜的电压-电流关系及其穿通特性的定量分析
机译:具有充电不平衡的超结型电源设备的击穿电压:通过设备进行打孔和非打孔的分析模型有效