机译:无缓冲应用的H〜+辐射p-i-n二极管的实验和数值研究
Dipartimento di Ingegneria dell'Informazione, University of Parma, parco Area delle Scienze, 181 A, 43100 Parma, Italy;
power diodes; reverse-recovery; proton irradiation;
机译:适用于无缓冲应用的功率p-i-n二极管:H〜+辐照可实现可靠的软反向恢复
机译:p-i-n二极管设计的恢复软度和过压依赖性的实验和数值研究
机译:4h-sic P-i-n二极管静态和瞬态行为的实验表征和数值分析
机译:H / sup + /辐照可实现无缓冲应用的功率p-i-n二极管的反向恢复柔软度和可靠性
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