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机译:将固有参数波动描述集成到BSIMSOI中,以预测基于15T UTB SOI的亚15nm以下的6T SRAM操作
Department of Electronics and Electrical Engineering, University of Glasgow, Glasgow G12 8LT, Scotland, UK;
UTB SOI; MOSFET; fluctuations; statistical circuit simulation; BSIMSOI; SRAM;
机译:常规6T SRAM单元和基于FinFET的45nm技术的6T SRAM单元参数的比较
机译:低于25 nm的UTB-SOI MOSFET中固有参数波动的组合源:统计仿真研究
机译:采用28 nm FD-SOI CMOS技术实现的低于及接近阈值操作的无负载6T SRAM单元
机译:随机掺杂剂引起的波动对15nm以下UTB SOI 6T SRAM单元的影响
机译:基于7NM FinFET的6T SRAM细胞瞬态和DC分析性能分析
机译:基于VVWBO-BVO的GM(1,1)及其基于GRA-IGSA集成算法的参数优化,用于年度电力负荷预测
机译:随机掺杂剂引起的波动对亚15nm UTB sOI 6T sRam单元的影响
机译:将基于空间的总闪电观测资料纳入预报业务的准备工作。