机译:用高κ绝缘子模拟围栅soi器件的等效氧化物厚度
Departamento de Electronica y Tecnologia de los Computadores, Facultad de Ciencias, Universidad de Granada, Granada 18071, Spain;
mug; SOI; eot; high-κ; sgt; GAA;
机译:具有高kappa $绝缘体的Trigate SOI MOSFET的等效氧化物厚度
机译:亚纳米等效氧化物厚度的高级高k栅介电非晶LaGdO3栅金属氧化物半导体器件
机译:具有亚纳米等效氧化物厚度的高级高k栅极电介质非晶LaGdO_3栅金属氧化物半导体器件
机译:具有低等效氧化物厚度的金属氧化物半导体器件对InGaAs和GaAs的原位沉积
机译:对绝缘体上硅CMOS器件和电路(包括双栅MOSFET)的基于过程的紧凑建模和分析。
机译:在存在随机界面陷阱的情况下16nm栅极高κ/金属栅极体FinFET器件的电特性波动
机译:亚纳米等效氧化物厚度的高级高k栅介电非晶LaGdO3栅金属氧化物半导体器件
机译:具有快速生长的超薄siO2栅极绝缘体的mOs(金属氧化物半导体)器件的界面和击穿特性。