机译:低温下SiGe数字逻辑中质子诱导的SEU
School of Electrical and Computer Engineering, Georgia Institute of Technology, 777 Atlantic Drive, N.W., Atlanta, CA 30332, USA;
silicon-germanium; radiation effects; single event upset; proton; radiation hardening by design; RHBD; SEU; SiGe HBT;
机译:在低温下运行的SiGe HBT电流模式逻辑中的电荷收集和SEU
机译:高速SiGe HBT数字逻辑的SEU强化方法
机译:采用多种电路架构设计的高速SiGe HBT数字逻辑中SEU容限的比较
机译:在低温温度下SiGe数字逻辑中质子诱导的SEU
机译:基于空间的重力波探测器的数字外差激光频率稳定,低温温度测量涂布褐色噪声
机译:低温下生物样品中辐射损伤的起源和温度依赖性
机译:用于高速siGe HBT数字逻辑的sEU硬化方法