机译:电应力过程中在超薄二氧化硅薄膜中产生氧化物俘获电荷的机理
机译:使用非化学计量的二氧化硅膜增强电可变只读存储器中的导电性并最大程度地减少电荷捕获
机译:含硅纳米晶的掺Er二氧化硅薄膜中的光发射和电荷俘获
机译:二氧化硅-硅界面陷阱电荷对单片金属-氧化锌-氮化硅-二氧化硅-硅卷积器性能的影响
机译:中性氧化物陷阱产生导致超薄二氧化硅薄膜中应力诱导的低水平泄漏机理
机译:金属氧化物半导体器件中硅/二氧化硅界面粗糙度和界面捕获电荷的低温测量。
机译:非易失性存储应用中的扫描探针显微镜技术对掺杂铜的氧化锌薄膜中的陷获电荷进行电学研究
机译:超高真空等离子体氧化在超薄二氧化硅膜的制造中
机译:硅上铝注入二氧化硅薄膜的电子俘获。