机译:用于SRAM器件可变性和NBTI统计的65 nm测试结构
Technische Universitaet Muenchen, Theresienstr. 90, 80290 Muenchen, Germany;
Infineon Technologies AG, Am Campeon 1, 85579 Neubiberg, Germany;
Infineon Technologies AG, Am Campeon 1, 85579 Neubiberg, Germany;
Infineon Technologies AG, Am Campeon 1, 85579 Neubiberg, Germany;
Infineon Technologies AG, Am Campeon 1, 85579 Neubiberg, Germany;
Technische Universitaet Muenchen, Theresienstr. 90, 80290 Muenchen, Germany;
variability; SRAM; NBTI; test structure;
机译:在65 nm标准SRAM中进行重离子测试和多单元翻转的3-D模拟
机译:NBTI相关的可变性对14纳米节点FinFET SRAM性能和静态功耗的影响:与时间零波动的相关性
机译:器件方向对65 nm SRAM中多位翻转的影响
机译:用于NBTI引起的SRAM晶体管统计差异分析的65nm测试结构
机译:NBTI引起的SRAM故障的测试,诊断和修复方法。
机译:基于SRAM物理上不可克隆的功能的移动设备上的受信任相机
机译:NBTI对FinFET sRam影响的统计可靠性分析及使用独立门器件的缓解技术