机译:漂移区中具有NBL层的横向绝缘体薄膜硅(PSO)PMOS晶体管的分析和优化
Instituto de Microelectronica de Barcelona (IMB-CNM) CS1C, Campus UAB, 08193 Bellaterra, Barcelona. Spain;
CNRS, LAAS, 7, Avenue du Colonel Roche, F-31077 Toulouse, France Universite de Toulouse, UPS, 1NSA, INP, ISAE, LAAS, F-31077 Toulouse, France;
CNRS, LAAS, 7, Avenue du Colonel Roche, F-31077 Toulouse, France Universite de Toulouse, UPS, 1NSA, INP, ISAE, LAAS, F-31077 Toulouse, France;
Instituto de Microelectronica de Barcelona (IMB-CNM) CS1C, Campus UAB, 08193 Bellaterra, Barcelona. Spain;
ATMEL Rousset, Zone Industrielle, 13106 Rousset Cedex, France;
ATMEL Rousset, Zone Industrielle, 13106 Rousset Cedex, France;
Thin-SOI technology; CMOS; LDMOS; RESURF; P-channel; NBL; TCAD;
机译:绝缘体上硅上的横向双扩散金属氧化物半导体的漂移区中的薄层氧化物:一种新型器件结构,可实现可靠的高温功率晶体管
机译:横向薄膜绝缘体上硅(MOSFET)晶体管的分析和优化
机译:薄膜累积模式PMOS / SOI晶体管的阈值电压的测量
机译:绝缘体上硅(MLSOI)岛的多层制造工艺和完全耗尽的SOI pMOSFET
机译:单晶薄膜绝缘体上硅(TFSOI)CMOS集成电路的物理和技术发展
机译:具有稳健的Zn-O薄膜晶体管双层异质结构设计和低温制造工艺使用真空和溶液沉积层
机译:完全拉伸的应变部分硅绝缘体n型 采用局域化的横向双扩散金属氧化物半导体场效应晶体管 接触蚀刻停止层
机译:在极端温度下操作sOI p沟道场效应晶体管CHT-pmOs30