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机译:FDSOI MOSFET中基于分立C-V测量的新参数提取方法
IMEP-LAHC, MINATEC Campus, 3 Parvis Louis Neel, 38016 Grenoble, Cedex 1, France ,STMicroelectronics, 850, rue J. Monnet, BP. 16, 38921 Crolles, France;
STMicroelectronics, 850, rue J. Monnet, BP. 16, 38921 Crolles, France;
STMicroelectronics, 850, rue J. Monnet, BP. 16, 38921 Crolles, France ,CEA-LETI, MINATEC Campus, 17 rue des Martyrs, 38054 Grenoble, Cedex 9, France;
STMicroelectronics, 850, rue J. Monnet, BP. 16, 38921 Crolles, France;
IMEP-LAHC, MINATEC Campus, 3 Parvis Louis Neel, 38016 Grenoble, Cedex 1, France;
IMEP-LAHC, MINATEC Campus, 3 Parvis Louis Neel, 38016 Grenoble, Cedex 1, France;
IMEP-LAHC, MINATEC Campus, 3 Parvis Louis Neel, 38016 Grenoble, Cedex 1, France;
Capacitance; Parameter extraction; CMOS; FDSOI;
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