机译:使用开路电压衰减方法比较CMOS光电二极管中TCAD模拟和测量的载流子寿命
Universite de Toulouse, 1SAE, Image Sensor Research Team, 10 Av. Edouard Belin, 31055 Toulouse, France;
Universite de Toulouse, 1SAE, Image Sensor Research Team, 10 Av. Edouard Belin, 31055 Toulouse, France;
photodiode; lifetime; simulation; TCAD; silicon;
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