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机译:AlGaN / GaN-on-Si MIS-HEMT的后漏应力行为
Robert Bosch GmbH, Robert Bosch Campus 1, D-71272 Renningen, Germany;
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Fraunhofer Inst Appl Solid State Phys, Tullastr 72, D-79108 Freiburg, Germany;
机译:采用部分凹陷和氟化陷阱电荷栅结构的无金,常态关闭的AlGaN / GaN-on-Si MIS-HEMT
机译:AlGaN / GaN-on-Si功率HEMT平台上片上光子源的开关行为
机译:带光子欧姆漏的AlGaN / GaN-on-Si功率晶体管的静态和动态行为表征
机译:闸门脉冲诱导界面陷阱行为的研究及其与AlGan / Gan-on-Si Mis-Hemts中阈值电压不稳定性的关系
机译:基于AlGaN的深紫色激光器中的光学增益和模态损耗=基于Algan的UVC激光二极管中的光学利润和模态损耗
机译:面向增强模式特性的具有双AlGaN势垒设计的嵌入式栅AlGaN / GaN MIS-HEMT研究
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