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机译:带有四个任意触点的90度对称设备上Van-der-Pauw测量的薄层电阻和迁移率的闭合形式表达式
Infineon Technol Austria AG, A-9500 Villach, Austria;
Conformal mapping; Device characterization; Device modeling; Hall plate; Sheet resistance; Van der Pauw method;
机译:如何从具有扩展触点的任意形状的平面四端子设备中提取薄层电阻和霍尔迁移率
机译:在具有四个触点和两个正交镜像对称的设备上进行Van-der-Pauw测量
机译:具有扩展触点的电对称平面四端子设备的薄层电阻确定
机译:除Van der Pauw之外:薄层电阻测定从具有扩展触点的任意形状的平面四端子设备
机译:使用波导反射法的纳米材料薄层电阻的非接触式测量
机译:具有五点触点的无限薄板的薄层电阻在任意位置处
机译:si,GaN和alGaN / GaN高电子迁移率晶体管(HEmT)晶片的非接触迁移率,载流子密度和薄层电阻测量。