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机译:用于CMOS老化紧凑模型参数提取的智能噪声和RTN去除方法
Univ Autonoma Barcelona, REDEC Grp, Elect Engn Deparunent, E-08193 Barcelona, Spain;
Univ Autonoma Barcelona, REDEC Grp, Elect Engn Deparunent, E-08193 Barcelona, Spain;
Univ Autonoma Barcelona, REDEC Grp, Elect Engn Deparunent, E-08193 Barcelona, Spain;
CSIC, Inst Microelect Sevilla, IMSE CNM, Seville, Spain|Univ Seville, Seville, Spain;
CSIC, Inst Microelect Sevilla, IMSE CNM, Seville, Spain|Univ Seville, Seville, Spain;
CSIC, Inst Microelect Sevilla, IMSE CNM, Seville, Spain|Univ Seville, Seville, Spain;
Univ Autonoma Barcelona, REDEC Grp, Elect Engn Deparunent, E-08193 Barcelona, Spain;
CMOS; BTI; HCI; Parameters; Extraction; Method; RTN; Defects; Aging;
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