机译:Si1-xGex合金膜的表面粗化100 MeV Au:成分依赖性
Univ Roma La Sapienza, Dept Phys, LOTUS Lab, INFM,CNR, I-00185 Rome, Italy;
Aarhus Univ, Dept Phys & Astron, DK-8000 Aarhus C, Denmark;
SiGe; atomic force microscopy; surface roughening; irradiation; MOLECULAR-BEAM EPITAXY; STRAIN RELAXATION; ION-BOMBARDMENT; EVOLUTION; GROWTH; MORPHOLOGY; ROUGHNESS; DIFFUSION; DYNAMICS; SI(001);
机译:原子力显微镜研究100 MeV Au对松弛Si0.5Ge0.5合金膜表面的影响
机译:100 MeV Au束在弛豫Si_(1-x)Ge_x薄膜中的成分依赖性结构修饰
机译:通过定向堆叠Ag和Au / Ag合金纳米板及其化学粗糙表面制备的柔性导电膜,用于爆炸性SERS检测和细胞粘附
机译:核多边形和径向流动的发作:对40至100 MeV / A的Au + Au碰撞的研究
机译:沉积在Ag(100)上的亚单层和多层Ag膜的扫描隧道显微镜研究(银膜,动力学粗糙化,均质性)。
机译:电子和振动表面增强拉曼散射:从原子定义的Au(111)和(100)到粗糙化au
机译:通过Ag和Au / Ag合金纳米层的定向堆叠制备的柔性导电膜及其用于爆炸性SERS检测和细胞粘附的化学粗糙化表面