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Patent citation analysis in a novel field of technology: An exploration of nano-Science and nano-technology

机译:新型技术领域的专利引用分析:纳米科学与纳米技术的探索

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摘要

This paper explores the interrelationships between science and technology in the emerging area of nano-science and technology. We track patent citation relations at the sectoral- disciplinary, the organizational, and the combined industrial/organizational levels. Then we investigate the geographic location and organizational affiliation of inventor/authors.
机译:本文探讨了纳米科学技术新兴领域中科学技术之间的相互关系。我们在部门纪律,组织以及产业/组织综合层面上跟踪专利引用关系。然后,我们调查发明者/作者的地理位置和组织隶属关系。

著录项

  • 来源
    《Scientometrics》 |2001年第1期|p.163-183|共21页
  • 作者

    Martin S.Meyer;

  • 作者单位
  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《化学文摘》(CA);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 计量学;
  • 关键词

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