首页> 外文期刊>Pomiary Automatyka Kontrola >Systemy do testowania mikroprocesorowych urządzeń pomiarowych
【24h】

Systemy do testowania mikroprocesorowych urządzeń pomiarowych

机译:测试微处理器测量设备的系统

获取原文
获取原文并翻译 | 示例

摘要

W artykule przedstawiono strukturę uniwersalnego systemu testującego oraz przykład zastosowania takiego systemu do wzorcowania, kalibracji i sprawdzania dokładności na przykładzie stanowiska do testowania rejestratora mikroprocesorowego.
机译:本文介绍了通用测试系统的结构,以及在微处理器记录仪测试站的示例中使用这种系统进行校准,校准和检查准确性的示例。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号