机译:用于确定微辐射热矩阵检测器异质性校正系数的测量站
INSTYTUT OPTOELEKTRONIKI, WOJSKOWA AKADEMIA TECHNICZNA, ul. gen. S. Kaliskiego 2, 00-908 Warszawa;
INSTYTUT OPTOELEKTRONIKI, WOJSKOWA AKADEMIA TECHNICZNA, ul. gen. S. Kaliskiego 2, 00-908 Warszawa;
INSTYTUT OPTOELEKTRONIKI, WOJSKOWA AKADEMIA TECHNICZNA, ul. gen. S. Kaliskiego 2, 00-908 Warszawa;
INSTYTUT OPTOELEKTRONIKI, WOJSKOWA AKADEMIA TECHNICZNA, ul. gen. S. Kaliskiego 2, 00-908 Warszawa;
korekcja niejednorodności; ciało doskonale czarne;
机译:可编程系统中微辐射热矩阵响应异质性校正算法的实现
机译:在FPGA系统中校正微辐射热检测器阵列异质性的算法的实现
机译:光学系统对微辐射热矩阵中红外探测器灵敏度的影响模型
机译:85. CAD计划处理计划系统中异质校正方法的剂量学验证