机译:从串联和并联系统的不确定寿命数据估算指数组件的可靠性
Software and Systems Engineering Research Lab, Motorola Labs, 1303 E. Algonquin Road, Schaumburg, IL, USA 60196;
reliability; masked data; equivalent failure and life time; em theorem; bayes theorem;
机译:使用屏蔽的系统寿命数据估算并行系统中的组件可靠性
机译:(1027-4927-1-PB)考虑冗余分配的串联并联可靠性系统中不确定组件的故障率的方法
机译:使用掩码系列系统寿命数据的组件可靠性的最大似然估计
机译:考虑不确定组件寿命分布的复杂系统可靠性估算
机译:根据竞争风险下被部分掩盖和审查的系统寿命数据估算组件可靠性。
机译:具有模糊数据的可修复多状态串并联系统的系统参数区间估计
机译:广义指数寿命模型中改进的一般系列平行系统的可靠性性能
机译:独立指数分量串并联系统可靠性的Bayes估计。